9 寸晶圆校验玻璃板 打孔片 抛光片
高精度校验玻璃依托平面精度稳定、光学均匀的特点,主要用于半导体晶圆制程检测、光刻机对位校验、探针台基准标定、光学影像设备校准:
1.9 寸硅片尺寸、平面度、翘曲度基准校验,替代标准晶圆做设备日常校准。 2. 晶圆外观 AOI 光学检测机基准标定板,统一设备检测精度。
光刻机、固晶机对位基准片,定期校正设备镜头与平台精度,降低生产不良。
探针台定位基准板,校验探针坐标、平台平整度,保证晶圆电性测试精准。
影像测量仪、轮廓仪标准基准玻璃,仪器定期精度校正。
板面精密抛光、平面度公差严苛,热变形极小,反复清洗不易形变,长期使用精度稳定,是半导体设备专用标准校验件。
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